CW2010-ZFA裂像顯微鏡特點:
以裂像聚焦指示器為測量原理, 采用高精度光學(xué)聚焦點檢測方式進行非接觸高低差測量。不僅可以對準(zhǔn)目標(biāo)影像, 還能觀察測量點的表面狀態(tài),對高度,深度,高低差等進行測量。本儀器的各種鏡筒還具有明暗場,微分干涉,金相,偏光等多種觀察功能。所以對極細微的間隙高低差,夾雜物、微米以下的突起、細微劃痕、以及金相組織進行觀察。
更新時間:2016-08-19型號:廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
現(xiàn)在聯(lián)系